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Built-in-self-test and digital self-calibration for RF SoCs

Verfasser: Bou-Sleiman, Sleiman
Herausgeber, Bearbeiter: Ismail, Mohammed
Verlagsort, Verlag, Erscheinungsjahr: New York, NY, Springer, 2012
Umfangsangabe: 1 online resource (xvii, 89 p.)
Serie: SpringerBriefs in electrical and computer engineering
ISBN: 978-1-4419-9548-3-(electronic-bk.) , 1-4419-9548-X-(electronic-bk.) , 978-1-283-35105-8-(MyiLibrary)

Zitierlink: http://www.ub.tu-dortmund.de/katalog/titel/1382929

 

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